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QM9701

本设备主要用于对Micro SD ，UDP，EUDM,EMMC，EPOP,EMCP,DRAM等存储类芯片在常温和高温环境下的自动化测试。

设备特点：

1.IC自动上料，Tray自动分配，IC自动分BIN；
2.集不同IC、Tray的测试解决方案于一体；
3.适用于测试时间较长的IC；
4.测试可与公司内网连接，可实现智能制造。

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